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臺(tái)式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過掃描樣品表面并利用反射出的電子來獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺(tái)式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺(tái)式掃描電鏡可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來成象，而且可以通過信號(hào)處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因?yàn)閽呙桦娮酉蟛皇峭瑫r(shí)記錄的，它是分解為近百萬個(gè)逐次依此記錄構(gòu)成的。因而使得高分辨率臺(tái)式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒有或著僅具有實(shí)驗(yàn)室基...

X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同的波長(zhǎng)范圍而已。X射線的波長(zhǎng)較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會(huì)發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產(chǎn)生X射線。X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試...

臺(tái)式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺(tái)式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空、不用噴金測(cè)量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢(shì)，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn)：成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中，真...

低溫環(huán)境XRD的分析中，定量分析軸承和內(nèi)燃機(jī)噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測(cè)輸片惰性輪中的殘余應(yīng)力；檢測(cè)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)部件的殘余應(yīng)力(凸輪軸、連桿、發(fā)動(dòng)機(jī)軸、均衡器)；檢測(cè)由于全同火引起的殘余應(yīng)力(家用電器、結(jié)構(gòu)部件)；檢測(cè)氣體傳導(dǎo)時(shí)所存在的工作壓力；檢測(cè)大幅度拉伸結(jié)構(gòu)件中的工作應(yīng)力；通過檢測(cè)應(yīng)力來測(cè)量工件噴丸和軋制的效率；檢測(cè)鑄件的殘余應(yīng)力(機(jī)械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測(cè)焊接引起的應(yīng)力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應(yīng)力和應(yīng)力阻抗的笑系：優(yōu)化切削去除的工作參數(shù)以提...

日本電子電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發(fā)展和應(yīng)用的拓展，相繼發(fā)展了宏觀斷口學(xué)和顯微斷口學(xué)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為101-1012A)。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。高溫環(huán)境XRD的原理：x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這...